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電子設備溫度測試箱|電子產品高低溫測試箱

設備介紹：

電子設備溫度測試箱|電子產品高低溫測試箱技術參數:

內部尺寸：(W×H×D)= 400mm×500mm×400mm(此尺寸為標準,還可定制非標)溫度范圍：D:-70℃ ～ +150℃；C:-40℃ ～ +150℃；B:-20℃ ～ +150℃；A:0℃ ～ +150℃；解析精度：±0.01℃；溫度波動度：±0.5℃；溫度偏差：≤±2.0℃；極限低溫：-70℃；極限高溫：150℃；升溫速率：平均3℃/min(非線性空載)；降溫速率：平均1℃/min(非線性空載)；濕度范圍：20%～98%R.H；濕度波動度：±2.5%R.H.；濕度偏差：≤±3%(≥75%)；≤±5%(﹤75%)

電子設備溫度測試箱|電子產品高低溫測試箱結構設計：箱門:單片門，單窗口，左開。平面嵌入式把手，后鈕:SUS #304。內箱材質: 鏡面不銹鋼板(SUS #304  1.0mm厚)；外箱材質：優質鋼板靜電噴涂烤漆處理（ 1.2mm厚) 或選擇不銹鋼材質；同溫層結構設計：有效避免箱體頂部凝結；保溫層：保溫絕緣層（硬質Polyurethane發泡+玻璃棉，100MM厚）；雙道隔熱氣密迫緊，有效隔絕箱體內外熱交換；觀測窗口：三層真空玻璃，便于觀察試品使用。（尺寸：270x360x40mm）照明設計：高亮度窗口照明燈，便于觀察試品；測試孔：機體左側ψ50mm 附不銹鋼孔蓋1只,硅膠塞頭1只；機臺滑輪；方便移動（調整擺放位置）與強力螺栓（固定位置）配套使用。有特殊要求可以聯系業務部門：0769-81015056。

電子設備溫度測試箱|電子產品高低溫測試箱滿足標準：

GB/T10589-2008低溫試驗箱技術條件；GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術條件GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術條件；GB/T2423.1-2008低溫試驗Aa，Ab
GB/TT2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法；GB/T2423.3-2006(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗 Ca；MIL-STD810D方法502.2；GB/T2423.4-2008（MIL-STD810）方法507.2程序3；GB2423.34-2012、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗。